表面性状の高さ方向のパラメータ

高さ方向のパラメータとは?

高さ方向のパラメータは、表面偏差の垂直特性の尺度です。

Ra, Rq, Wa, Wq, Pa, Pq

l 1 - l 5 は、連続した等しいサンプリング長です (l サンプリング長は、フィルタのカットオフ長 λc に対応します)。 評価長さ「L」は、表面粗さパラメータの評価に使用されるプロファイルの長さとして定義されます。.

Ra: Ra: Ra は世界的に認知され、最も使用されている粗さの国際的なパラメータです。 これは、平均線からの粗さプロファイルの絶対偏差の算術平均です。

R_a = 1 ∕ l ∫₀^l | Z[x] | dx

Rq: Rqは、平均線からのプロファイルの逸脱の二乗平均平方根 (rms) 値です。 Rq は RMS と呼ばれることもあります。

R_q = √ 1 ∕ l ∫₀^l∣Z²[x] ∣ dx

Rv, Rp, Rt, Wv, Wp, Wt, Pv, Pp, Pt

Rv は、サンプリング長さ内の平均線より下のプロファイルの最大深さです。 Rp は、サンプリング長さ内の平均線より上のプロファイルの最大高さです。 Rt は、評価長さにおけるプロファイルの最大山から谷までの高さです。 Rp1max は、各サンプル長から平均する個々のピークの最大値です。 Rv1max は、各サンプルの長さから谷までの個々の平均の最大値です。 Wv、Wp、Wt、Pv、Pp、および Pt は、それぞれうねりプロファイルとプライマリプロファイルに対応するパラメータです。

Rsk, Rku, Wsk, Wku, Psk, Pku

Rsk - 歪度 - は、平均線に関するプロファイルの対称性の尺度です。 同じ Ra または Rq の非対称プロファイルを区別します。

R_sk = 1 ∕ Rq³ [ 1 ∕ l ∫^l₀ Z³[x] dx ]

Rku - 尖度 - は、表面プロファイルの鋭さの尺度です。 Rsk と Rku は、サンプリング長内で計算されます。

R_ku = 1 ∕ Rq⁴ [1 ∕ l ∫^l₀ Z⁴[x] dx ]

Wsk、Wku、Psk、および Pku は、それぞれうねりとプライマリプロファイルからの対応するパラメータです。

Rz (JIS), Pz (JIS)

Rz (JIS) は、ISO 4287/1-1984 の ISO 10 ポイント高さパラメータとしても知られており、粗さと一次プロファイルのみで測定され、数値的には、サンプリング長さ内の 5 つの最高峰と 5 つの最低谷間の平均高さの差です。

R_z[JIS] =  [ Zp1+Zp2+Zp3+Zp4+Zp5+Zp6 ] / 5

       = 1/5 [ ∑ _i=1ⁱ⁼⁵ Z_p-1 - ∑_i=1 ⁱ⁼⁵ Z_v1 ]  

Pz (JIS) は、プライマリプロファイルの対応するパラメータです。

Rz, Wz, Pz, Rz1max

Rz = Rp + Rv で、サンプリング長さ内のプロファイルの最大山から谷までの高さです。 Rz1max は、評価長内の任意のサンプリング長における最大の山から谷までです。 Wz、Pz は、それぞれうねりとプライマリプロファイルからの対応するパラメータです。

R3z, R3y (R3z1max)

R3z は、評価長さにわたって平均化されたサンプリング長さの 3 番目に高いピークから 3 番目に低い谷までの垂直平均です。 DB N31007 (1983)。 ここで、N = サンプリング長の数。 R3y (R3z1max) は、R3zi、i=1...N 値の最大値です。

R_3z = R3z1+R3z2+---+R3zN/ N

=1/N ∑ _i=1^i=N R3zi